Optimal truncated repetitive lot inspection with defect rates
- Pérez-González, C.J.
- Fernández, A.J.
- Kohansal, A.
- Asgharzadeh, A.
Revista:
Applied Mathematical Modelling
ISSN: 0307-904X
Año de publicación: 2019
Volumen: 75
Páginas: 223-235
Tipo: Artículo