X-ray photoelectron spectroscopy: Surface and depth profiling studies of glasses doped with Nd and Yb ions

  1. Rivera-López, F.
  2. Pérez, M.
Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421,  1096-9918

Any de publicació: 2012

Volum: 44

Número: 8

Pàgines: 927-930

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1002/SIA.4921 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus