X-ray photoelectron spectroscopy: Surface and depth profiling studies of glasses doped with Nd and Yb ions

  1. Rivera-López, F.
  2. Pérez, M.
Zeitschrift:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421,  1096-9918

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 44

Nummer: 8

Seiten: 927-930

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1002/SIA.4921 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus