X-ray photoelectron spectroscopy: Surface and depth profiling studies of glasses doped with Nd and Yb ions

  1. Rivera-López, F.
  2. Pérez, M.
Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421,  1096-9918

Año de publicación: 2012

Volumen: 44

Número: 8

Páginas: 927-930

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1002/SIA.4921 GOOGLE SCHOLAR
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