Optimal reliability demonstration test plans for k-out-of-n systems of gamma distributed components

  1. Fernández, A.J.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 0018-9529

Argitalpen urtea: 2011

Alea: 60

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 833-844

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TR.2011.2161701 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus