Simplified resubmitted lot inspection from defect counts

  1. Fernández, A.J.
  2. Pérez-González, C.J.
Aldizkaria:
International Journal of Advanced Manufacturing Technology

ISSN: 1433-3015,  0268-3768

Argitalpen urtea: 2016

Alea: 87

Zenbakia: 1-4

Orrialdeak: 723-734

Mota: Artikulua

DOI: 10.1007/S00170-016-8503-X GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus