Depth-resolved micro-Raman study of porous silicon at different oxidation states

  1. Moreno, J.D.
  2. Agulló-Rueda, F.
  3. Montoya, E.
  4. Marcos, M.L.
  5. González-Velasco, J.
  6. Guerrero-Lemus, R.
  7. Martínez-Duart, J.M.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Ano de publicación: 1997

Volume: 71

Número: 15

Páxinas: 2166-2168

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.119370 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus