Latent Nestling Method: A new fault diagnosis methodology for complex systems

  1. Garcia, E.
  2. Rodriguez, L.
  3. Morant, F.
  4. Correcher, A.
  5. Quiles, E.
Colección de libros:
IECON 2008: 34TH ANNUAL CONFERENCE OF THE IEEE INDUSTRIAL ELECTRONICS SOCIETY, VOLS 1-5, PROCEEDINGS

ISSN: 1553-572X

ISBN: 978-1-4244-1767-4

Año de publicación: 2008

Páginas: 204-209

Congreso: 34th Annual Conference of the IEEE-Industrial-Electronics-Society

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS