XPS characterization of different thermal treatments in the ITO-Si interface of a carbonate-textured monocrystalline silicon solar cell

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Revista:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

ISSN: 0168-583X

Año de publicación: 2010

Volumen: 268

Número: 3-4

Páginas: 374-378

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.NIMB.2009.09.044 GOOGLE SCHOLAR
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