Lifetime measurements of porous Si1-xGex stain etched

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Revista:
Thin Solid Films

ISSN: 0040-6090

Ano de publicación: 2004

Volume: 451-452

Páxinas: 316-319

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1016/J.TSF.2003.11.056 GOOGLE SCHOLAR
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