Influence of wavelength on the Raman line shape in porous silicon

  1. Agulló-Rueda, F.
  2. Moreno, J.D.
  3. Montoya, E.
  4. Guerrero-Lemus, R.
  5. Martínez-Duart, J.M.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1998

Volumen: 84

Número: 4

Páginas: 2349-2351

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.368303 GOOGLE SCHOLAR