Analysis of copper diffusion processes using impedance data
- Bastidas, D.M.
- Cano, E.
- Fajardo, S.
- Bastidas, J.M.
ISSN: 1938-5862, 1938-6737
ISBN: 9781615672882
Año de publicación: 2008
Volumen: 15
Número: 1
Páginas: 215-219
Tipo: Aportación congreso