Analysis of copper diffusion processes using impedance data
- Bastidas, D.M.
- Cano, E.
- Fajardo, S.
- Bastidas, J.M.
ISSN: 1938-5862, 1938-6737
ISBN: 9781615672882
Ano de publicación: 2008
Volume: 15
Número: 1
Páxinas: 215-219
Tipo: Achega congreso
ISSN: 1938-5862, 1938-6737
ISBN: 9781615672882
Ano de publicación: 2008
Volume: 15
Número: 1
Páxinas: 215-219
Tipo: Achega congreso