Accurate estimation of aberrations of microoptics components through intensity measurements: Numerical simulations for best positioning and noise analysis
- Soto, M.
- Ríos, S.
- Acosta, E.
- Voitsekhovich, V.
ISSN: 0021-4922
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 39
Nummer: 3 B
Seiten: 1562-1565
Art: Artikel