Optimal truncated repetitive lot inspection with defect rates

  1. Pérez-González, C.J.
  2. Fernández, A.J.
  3. Kohansal, A.
  4. Asgharzadeh, A.
Zeitschrift:
Applied Mathematical Modelling

ISSN: 0307-904X

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 75

Seiten: 223-235

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.APM.2019.05.032 GOOGLE SCHOLAR