Optimal truncated repetitive lot inspection with defect rates
- Pérez-González, C.J.
- Fernández, A.J.
- Kohansal, A.
- Asgharzadeh, A.
Zeitschrift:
Applied Mathematical Modelling
ISSN: 0307-904X
Datum der Publikation: 2019
Ausgabe: 75
Seiten: 223-235
Art: Artikel