Properties of porous silicon layers studied by voltammetric oxidation
- Guerrero-Lemus, R.
- Moreno, J.D.
- Martínez-Duart, J.M.
- Marcos, M.L.
- González-Velasco, J.
- Gómez, P.
ISSN: 0021-8979
Año de publicación: 1996
Volumen: 79
Número: 6
Páginas: 3224-3228
Tipo: Artículo