Imaging the origins of coating degradation and blistering caused by electrolyte immersion assisted by SECM

  1. Souto, R.M.
  2. González-García, Y.
  3. González, S.
  4. Burstein, G.T.
Revista:
Electroanalysis

ISSN: 1040-0397,  1521-4109

Any de publicació: 2009

Volum: 21

Número: 23

Pàgines: 2569-2574

Tipus: Article

DOI: 10.1002/ELAN.200900262 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus