Imaging the origins of coating degradation and blistering caused by electrolyte immersion assisted by SECM

  1. Souto, R.M.
  2. González-García, Y.
  3. González, S.
  4. Burstein, G.T.
Zeitschrift:
Electroanalysis

ISSN: 1040-0397,  1521-4109

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 21

Nummer: 23

Seiten: 2569-2574

Art: Artikel

DOI: 10.1002/ELAN.200900262 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus