Imaging the origins of coating degradation and blistering caused by electrolyte immersion assisted by SECM

  1. Souto, R.M.
  2. González-García, Y.
  3. González, S.
  4. Burstein, G.T.
Revista:
Electroanalysis

ISSN: 1040-0397,  1521-4109

Ano de publicación: 2009

Volume: 21

Número: 23

Páxinas: 2569-2574

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/ELAN.200900262 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus