A large deviation approach to normality testing
- Sigut, J
- Pineiro, J
- Moreno, L
- Estevez, J
- Aguilar, R
- Marichal, R
ISSN: 0033-5207
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 50
Nummer: 6
Seiten: 677-680
Art: Artikel
ISSN: 0033-5207
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 50
Nummer: 6
Seiten: 677-680
Art: Artikel