A large deviation approach to normality testing
- Sigut, J
- Pineiro, J
- Moreno, L
- Estevez, J
- Aguilar, R
- Marichal, R
ISSN: 0033-5207
Argitalpen urtea: 2005
Alea: 50
Zenbakia: 6
Orrialdeak: 677-680
Mota: Artikulua
ISSN: 0033-5207
Argitalpen urtea: 2005
Alea: 50
Zenbakia: 6
Orrialdeak: 677-680
Mota: Artikulua