Depth-resolved microspectroscopy of porous silicon multilayers

  1. Manotas, S.
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  3. Moreno, J.D.
  4. Martín-Palma, R.J.
  5. Guerrero-Lemus, R.
  6. Martinez-Duart, J.M.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 1999

Ausgabe: 75

Nummer: 7

Seiten: 977-979

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.124572 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus