Depth-resolved microspectroscopy of porous silicon multilayers

  1. Manotas, S.
  2. Agulló-Rueda, F.
  3. Moreno, J.D.
  4. Martín-Palma, R.J.
  5. Guerrero-Lemus, R.
  6. Martinez-Duart, J.M.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Argitalpen urtea: 1999

Alea: 75

Zenbakia: 7

Orrialdeak: 977-979

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.124572 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus