Analysis of copper diffusion processes using impedance data

  1. Bastidas, D.M.
  2. Cano, E.
  3. Fajardo, S.
  4. Bastidas, J.M.
Actas:
ECS Transactions

ISSN: 1938-5862,  1938-6737

ISBN: 9781615672882

Año de publicación: 2008

Volumen: 15

Número: 1

Páginas: 215-219

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1149/1.3046635 GOOGLE SCHOLAR
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