Fault diagnosis with Coloured Petri Nets using Latent Nestling Method

  1. García, E.
  2. Rodriguez, L.
  3. Morant, F.
  4. Correcher, A.
  5. Quiles, E.
  6. Blasco, R.
Actes:
IEEE International Symposium on Industrial Electronics

ISBN: 9781424416653

Any de publicació: 2008

Pàgines: 986-991

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/ISIE.2008.4677094 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus