Fault diagnosis with Coloured Petri Nets using Latent Nestling Method
- García, E.
- Rodriguez, L.
- Morant, F.
- Correcher, A.
- Quiles, E.
- Blasco, R.
Konferenzberichte:
IEEE International Symposium on Industrial Electronics
ISBN: 9781424416653
Datum der Publikation: 2008
Seiten: 986-991
Art: Konferenz-Beitrag