Fault Diagnosis with Coloured Petri Nets using Latent Nestling Method

  1. Garcia, E.
  2. Rodriguez, L.
  3. Morant, F.
  4. Correcher, A.
  5. Quiles, E.
  6. Blasco, R.
Col·lecció de llibres:
2008 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, VOLS 1-5

ISSN: 2163-5137

ISBN: 978-1-4244-1665-3

Any de publicació: 2008

Pàgines: 1265-1270

Congrés: IEEE International Symposium on Industrial Electronics

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS