Accurate estimation of aberrations of microoptics components through intensity measurements: Numerical simulations for best positioning and noise analysis
- Soto, M.
- Ríos, S.
- Acosta, E.
- Voitsekhovich, V.
ISSN: 0021-4922
Año de publicación: 2000
Volumen: 39
Número: 3 B
Páginas: 1562-1565
Tipo: Artículo