Forensic analysis of Si-based PV module micro-cracking due to standard IEC thermal and mechanical testing procedures

  1. Gonzalez, O.
  2. Diaz-Herrera, B.
  3. Gonzalez-Diaz, B.
  4. Gonzalez-Perez, S.
  5. Votta, L.
  6. Guerrero-Lemus, R.
Actas:
2017 IEEE 44th Photovoltaic Specialist Conference, PVSC 2017

ISBN: 9781509056057

Año de publicación: 2017

Páginas: 1-5

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/PVSC.2017.8366721 GOOGLE SCHOLAR
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