Two-dimensional tight-binding model of ac conductivity in porous silicon

  1. Cruz, H.
  2. Luis, D.
  3. Capuj, N.E.
  4. Pavesi, L.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1998

Volumen: 83

Número: 12

Páginas: 7693-7698

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.367940 GOOGLE SCHOLAR