Imaging the origins of coating degradation and blistering caused by electrolyte immersion assisted by SECM

  1. Souto, R.M.
  2. González-García, Y.
  3. González, S.
  4. Burstein, G.T.
Revista:
Electroanalysis

ISSN: 1040-0397 1521-4109

Año de publicación: 2009

Volumen: 21

Número: 23

Páginas: 2569-2574

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/ELAN.200900262 GOOGLE SCHOLAR