Cross-section TEM and optical characterization of porous silicon multilayer stacks

  1. Martín-Palma, R.J.
  2. Herrero, P.
  3. Guerrero-Lemus, R.
  4. Moreno, J.D.
  5. Martínez-Duart, J.M.
Revista:
Journal of Materials Science Letters

ISSN: 0261-8028

Any de publicació: 1998

Volum: 17

Número: 10

Pàgines: 845-847

Tipus: Article

DOI: 10.1023/A:1006654926348 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus