Cross-section TEM and optical characterization of porous silicon multilayer stacks
- Martín-Palma, R.J.
- Herrero, P.
- Guerrero-Lemus, R.
- Moreno, J.D.
- Martínez-Duart, J.M.
ISSN: 0261-8028
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 17
Nummer: 10
Seiten: 845-847
Art: Artikel