Fault Diagnosis with Coloured Petri Nets using Latent Nestling Method

  1. Garcia, E.
  2. Rodriguez, L.
  3. Morant, F.
  4. Correcher, A.
  5. Quiles, E.
  6. Blasco, R.
Colección de libros:
2008 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON INDUSTRIAL ELECTRONICS, VOLS 1-5

ISSN: 2163-5137

ISBN: 978-1-4244-1665-3

Año de publicación: 2008

Páginas: 1265-1270

Congreso: IEEE International Symposium on Industrial Electronics

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS