Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors

  1. Gaburro, Z.
  2. Oton, C.J.
  3. Ghulinyan, M.
  4. Pancheri, L.
  5. Pavesi, L.
  6. Capuj, N.
Revista:
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

ISSN: 1862-6300,  1862-6319

Any de publicació: 2005

Volum: 202

Número: 8

Pàgines: 1467-1471

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1002/PSSA.200461138 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus