Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors

  1. Gaburro, Z.
  2. Oton, C.J.
  3. Ghulinyan, M.
  4. Pancheri, L.
  5. Pavesi, L.
  6. Capuj, N.
Revista:
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

ISSN: 1862-6300,  1862-6319

Ano de publicación: 2005

Volume: 202

Número: 8

Páxinas: 1467-1471

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1002/PSSA.200461138 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus