Cross-section TEM and optical characterization of porous silicon multilayer stacks

  1. Martín-Palma, R.J.
  2. Herrero, P.
  3. Guerrero-Lemus, R.
  4. Moreno, J.D.
  5. Martínez-Duart, J.M.
Revista:
Journal of Materials Science Letters

ISSN: 0261-8028

Año de publicación: 1998

Volumen: 17

Número: 10

Páginas: 845-847

Tipo: Artículo

DOI: 10.1023/A:1006654926348 GOOGLE SCHOLAR
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