Role of microstructure and layer thickness in porous silicon conductometric gas sensors

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Revista:
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science

ISSN: 1862-6300,  1862-6319

Año de publicación: 2005

Volumen: 202

Número: 8

Páginas: 1467-1471

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1002/PSSA.200461138 GOOGLE SCHOLAR
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